Was ist die Mikrosektion eines PTH?
Um die Qualität von durchkonatkierten Bohrungen (PTH) nach dem galvanischen Prozess zu überprüfen, messen wir auf jedem Nutzen die Kpferschichtdicke mehrerer Löcher.
Jedem Nutzenl legen wir Testcoupons bei. Aus jeder Produktionscharge wählen wir einige Coupons aus und fertigen Mikroschnitte der PTH an, um die Qualität der Kupferhülsen in der Leiterplatte zu prüfen.
Effekte, die wir erkennen können, aber als Eurocircuits in der Fertigung vermeiden wollen, sind:
Fehlstellen
Klumpen
Risse
Cracks are not acceptable before or after thermal stress, accept for barrel/Corner crack (D)(C) after thermal stress not extending the through plating.
Risse sind nicht akzeptabel vor oder nach der thermischen Belastung, akzeptiere für Hülsen-/Eckenriss (D)(C) nach der thermischen Belastung, der sich nicht über die Durchkontaktierung erstreckt.
Andere typische Risse:
- (E) Hülsenriss – nicht zulässig vor oder nach dem Betrieb.
- (F) Ris an einem Klumpen – nicht zulässig vor oder nach dem Betrieb.
- (G) Riss im inneren Pad oder der inneren Kupferschicht – nicht zulässig vor oder nach dem Betrieb.
- (H) Folienriss – ist nach thermischer Beanspruchung nur an den Außenlagen akzeptabel, sofern er nicht durch die Beschichtung hindurchgeht.
Rauigkeit
Rauigkeit
ist zulässig, wenn die Schichtdicke nicht unter dem Minimum liegt
Grate
Ablösen der Metallisierung
Ablösen zwischen den Lagen
wird nicht akzeptiert.
Pad Rotation (A)
ist erlaubt.
Pink ring (B)
ist erlaubt.
Glasfaserüberstand (C)
Glasfaservorsprünge sind zulässig, wenn sie den Lochdurchmesser oder die Kupferdicke nicht unter das Minimum reduzieren.
Abgelöste Pads (D)
Das Ablösen von Pads ist nur nach thermischer Belastung oder Nacharbeit erlaubt.









